自動試験装置

Vicorの高密度・高効率パワーモジュールにより、ATEシステム設計者は、同じサイズまたはより小さなサイズのテストヘッドで、テストヘッドのピン数を増やすことができるPDN（電力供給ネットワーク）アーキテクチャを実装することができます。データセンター、軍用、車載用、産業用ICの消費電力は増加の一途をたどり、電圧レベルも多種多様になってきています。Vicorのモジュール式PDNは、ATEメーカーが電力レベルを容易に拡張し、様々な電圧をサポートすることで、迅速な開発と市場投入までの時間短縮を可能にします。

半導体メーカー各社は、増大し続けるIC需要に迅速かつ確実に対応し、追加コストをできるだけ抑えたテストシステムの設計を、自動試験装置メーカーに対して強く求めています。半導体メーカーは、CoT（Cost of Test）の必要性を認めるものの、製品マージンを減じるだけで、工場の床面積は増え続け、サイクルタイムや歩留まり改善には寄与しないコスト増要因と考えています。ATEシステムメーカーは、IC製品の技術的ニーズに応え、歩留まり低下に寄与せず、置き換えられる世代と同じかそれ以下の工場床面積で済むテストシステムを開発する必要があります。