広帯域幅および低ノイズのADXL1003 MEMS加速度計

Analog Devicesの予知保全、資産の健全性、条件ベース監視用センサ製品

Analog Devicesが提供する広帯域幅、低ノイズのADXL1003 MEMS加速度計の画像ADIのADXL1003は、低ノイズ、広帯域幅のMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)加速度計です。標準ノイズ密度は線形周波数範囲の全域で45µg/√Hzです。感度は非常に安定していて再現性に優れ、最大10,000gの外部衝撃に対して耐性があります。内蔵の信号調整エレクトロニクスにより、組込み用途に有用な完全静電セルフテスト(ST)およびオーバーレンジ(OR)インジケータなどの機能を実現します。3.0V〜5.25Vの低消費電力および単電源動作により、この加速度計を使用してワイヤレスセンシング製品を設計することも可能です。ADXL1003は、小型の32ピンLFCSPパッケージで提供され、-40℃〜+125℃の温度範囲で動作します。ADXL1003は、予知保全、資産の健全性、および条件ベース監視に最適です。

Analog Devicesが提供するADXL1003の機能ブロック図の画像

特長
  • 超低ノイズ密度:45µg/√Hz
  • アナログ出力の単一平面内軸加速度計
  • AEC-Q200認定
  • フルスケール範囲:±200g
  • オーバーレンジセンシングとDCカップリングにより回復時間を短縮
  • 完全なエレクトロメカニカルセルフテスト
    • 線形周波数応答範囲:DCから15kHz(標準)(3dBポイント)
    • 共振周波数:28kHz(標準)
  • RoHS対応
  • -40°C~+125°Cの温度範囲
  • 32ピン、5mm x 5mm x 1.8mm LFCSPパッケージ
  • 単電源動作
    • 電源に対する出力電圧比メトリック
    • 低消費電力:1.0mA(標準)
    • 高速復帰可能な省電力スタンバイ動作モード
応用
  • 予知保全
  • 資産の健全性
  • 条件ベースの監視
  • テストおよび測定
  • アコースティックエミッション
  • 健全性および使用状況の監視

Motion Sensor Accelerometers

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Evaluation Board

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刊行: 2018-12-28